AOI+AI智能檢測設備

工具顯微鏡, 整合自動化(EFEM)功能, 並具備SECS/GEM、及自動結果量測、分析之設備。

面對製造業中複雜多變的瑕疵樣貌與高變異生產環境，傳統AOI常陷於誤判與調校成本高昂的困境。AI多面外觀檢查機，以多面同步檢查與深度學習為核心，實現更高容錯性與分類準確率，不僅解決瑕疵難分類問題，亦能進行自動分料與模型持續強化，真正邁向高品質的智慧生產。

專為半導體晶片散熱片設計的全自動檢測機，結合深度學習模型與15μm高解析光學，99%瑕疵檢出率，精準識別漏銅、污染、刮傷等，助您提升產能與良率。