【缺陷生成系統】
大型語言模型(LLM)驅動智能化合成缺陷樣本，助力 AI 檢測模型高效訓練。
主要功能亮點
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批量缺陷合成｜缺陷不足、人工標註費時耗力 → 一鍵生成千級不同形態缺陷影像，標註工時立減 80%
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缺陷多樣化｜設備拍攝圖像不一致 → 隨機增強亮度、對比、旋轉、縮放、灰度、顏色等，提升缺陷多樣性
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即時預覽｜可視化調整位置／透明度／Gamma 參數，操作直觀，彈性高
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自動化流程｜節點化拖拽組態，一鍵串接讀取、增強、貼合、導出，實現全流程自動化
技術細節
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資料讀取｜支援本地或網路資料夾影像的單圖與批量預覽
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參數調整｜動態調整位置、大小、亮度、對比、旋轉、縮放、灰度等參數
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細節控制｜可細化控制貼合強度、背景一致性、隨機種子、最大解析度、柔化參數
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配置管理｜一鍵保存／載入節點組態，支持版本化管理
典型應用場景
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半導體晶圓封裝前缺陷合成：顆粒、殘膠、微裂痕全自動生成，快速部署 AI 檢測模型
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PCB/SMT 錫膏與元件偏移檢測：合成多樣焊錫、橋接、短路缺陷樣本，提升分類與定位準確率
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通用視覺前處理：跨機台、跨場景缺陷模擬與擴充，助力分類、檢測、分割任務